缺陷检测的任务分为三个阶段：缺陷分类、缺陷定位和缺陷分割。如下图所示，缺陷分类需要对缺陷类别（不同颜色、空洞、经络）进行分类；缺陷定位不仅需要获取缺陷类别，还需要标记缺陷位置；缺陷分割按像素将缺陷从背景像素分割出来。

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